X線回折測定法及びX線回折装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴木利之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-304502
公開番号（公開出願番号）：特開平6-130003
出願日： 1992年10月19日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【目的】単結晶試料の多くの回折ピークのデータを蓄積性蛍光体に一度に記録し、かつ、結晶の単位格子と結晶方位の決定を、試料の軸立てを行うことなく自動的に行えるようにして、単結晶試料の構造解析を容易にする。【構成】試料保持装置18に取り付けた単結晶試料28にX線を照射して、そこからの回折X線を蓄積性蛍光体12に記録する。試料28は、ω軸の回りに自由に回転でき、さらに、ω軸に対して45度だけ傾斜したφ軸の回りで0°と180°の位置にのみ停止できる。まず、φ=0°に試料28を設定して、所定のω回転条件でn個の振動写真と2個のワイセンベルク写真を記録する。次に、φ=180°に試料28を設定して、所定のω回転条件でn個の振動写真をとる。これらのデータをもとに結晶方位の決定と結晶構造解析を行う。

請求項（抜粋）：

単結晶の試料にX線を照射して、試料からの回折X線を2次元記録面に記録することによって試料の結晶構造解析のためのデータを収集するX線回折測定法において、試料を試料回転軸(以下、ω軸という。)上に回転可能に取り付け、ω軸上の角度をω0〜ω1、ω1〜ω2、......、ωn-1〜ωnのn個の角度範囲に分割し、それぞれの角度範囲において、試料をその角度範囲内で回転させながら、試料にX線を照射して、試料からの回折X線を、静止した2次元記録面に振動写真として記録するとともに、前記n個の角度範囲のうちの少なくとも一つの角度範囲において、試料をその角度範囲内で回転させながら、試料にX線を照射して、試料からの回折X線を、ω軸の角度変化に比例してω軸の軸方向に移動する2次元記録面にワイセンベルク写真として記録することを特徴とするX線回折測定法。

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