特許
J-GLOBAL ID：200903071886528515
抵抗体の抵抗値調整方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-233536
公開番号（公開出願番号）：特開平6-084619
出願日： 1992年09月01日
公開日（公表日）： 1994年03月25日
要約：
【要約】【目的】対向して形成された一対の端子電極と、この一対の端子電極間にまたがって形成された抵抗膜とからなる抵抗体の抵抗値調整方法であって、抵抗値をより高精度に調整できるようにする。【構成】対向する一対の端子電極1,2を一方端の対向間隔が狭く、他方端の対向間隔が広くよるように配置し、抵抗膜3の端子電極1,2の対向間隔が狭い方の側部Aに、端子電極1,2の対向間隔が広い方の側部Bに向かう第1の切溝5を形成し、その後に、抵抗膜3の内面部に端子電極1,2の対向間隔が広い方の側部Bに向かう第2の切溝6を形成する。
請求項（抜粋）：
対向して形成された一対の端子電極と、この一対の端子電極間にまたがって形成された抵抗膜とからなる抵抗体の抵抗値調整方法であって、前記対向する一対の端子電極を一方端の対向間隔が狭く、他方端の対向間隔が広くなるように配置し、前記抵抗膜の端子電極の対向間隔が狭い方の側部に、端子電極の対向間隔が広い方の側部に向かう第1の切溝を形成し、その後に、前記抵抗膜の内面部であって前記第1の切溝の終端部よりも端子電極の対向間隔が広い方の側部寄りの位置に、端子電極の対向間隔が広い方の側部に向かう第2の切溝を形成したことを特徴とする抵抗体の抵抗値調整方法。
IPC (2件)：
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