特許
J-GLOBAL ID：200903072062215727
電子部品の外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-044903
公開番号（公開出願番号）：特開平5-248829
出願日： 1992年03月02日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：
【要約】【目的】 座標上の位置補償を行なうことなく相関計算及び良否判定を行なえる電子部品の外観検査装置を提供すること。【構成】 回転対称形状を成し、且つ部品識別用の複数のラインBaを表面周方向に有する電子部品Bの外観形状を検査する装置であって、電子部品Bの2次元画像を撮像する撮像器1と、電子部品Bの画像デ-タを記憶する入力画像記憶回路2と、判定基準となる基準パタ-ンを記憶した基準パタ-ン記憶回路3と、電子部品表面の軸線に沿う方向での輝度デ-タSを読取る輝度デ-タ読取り回路4と、輝度デ-タSに現れる局部変動のピ-ク位置P1〜P5を記憶するピ-ク位置記憶回路5と、ピ-ク位置P1〜P5の近傍における被検査部分のパタ-ンと基準パタ-ンの相関を計算する相関計算回路6と、相関計算の結果から部品の良否を判定する判定回路7とを具備している。
請求項（抜粋）：
回転対称形状を成し、且つ部品識別用の複数のラインを表面周方向に有する電子部品の外観形状を検査する装置であって、電子部品の2次元画像を撮像する撮像器と、電子部品の画像デ-タを記憶する入力画像記憶回路と、判定基準となる基準パタ-ンを記憶した基準パタ-ン記憶回路と、電子部品表面の軸線に沿う方向での輝度デ-タを読取る輝度デ-タ読取り回路と、輝度デ-タに現れる局部変動のピ-ク位置を記憶するピ-ク位置記憶回路と、ピ-ク位置の近傍における被検査部分のパタ-ンと基準パタ-ンの相関を計算する相関計算回路と、相関計算の結果から部品の良否を判定する判定回路とを具備した、ことを特徴とする電子部品の外観検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, B07C 5/10
, G06F 15/62 415
, G06F 15/70 460
