光ファイバ健全性検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：関正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-023219
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221108
出願日： 1999年01月29日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【課題】高出力レーザを光ファイバに導入する前に光ファイバの健全性を検査することができ、またレーザ加工中にも光ファイバの状態を検査できるようにした、より簡便な光ファイバ健全性検査装置を提供する。【解決手段】加工用レーザ発振器1と光ファイバ3とレーザ加工ヘッド4を備えたレーザ加工装置に適用するもので、加工用レーザ光とは波長が異なる検査用レーザ光を発生する検査用レーザ発振器2を備え、検査用レーザ光を光ファイバ3に導入してレーザ加工ヘッド4から戻ってくる検査用レーザ光を加工用レーザの放出端近傍において検出することにより、光ファイバ3やレーザ加工ヘッド4の異常を検知する。

請求項（抜粋）：

加工用レーザ光を発生する加工用レーザ発振器と該加工用レーザ光を搬送する光ファイバと該光ファイバから放射される該加工用レーザ光を収束して対象物に照射するレーザ加工ヘッドを備えたレーザ加工装置において、前記加工用レーザ光と波長が異なる検査用レーザ光を発生する検査用レーザ発振器と該検査用レーザ光を検出する光検出器を備え、前記検査用レーザ光を前記光ファイバに導入して前記レーザ加工ヘッドから戻ってくる前記検査用レーザ光を前記光ファイバのレーザ光放出端に隣接した位置で前記光検出器により測定して、前記光ファイバの異常を検出する光ファイバ健全性検査装置。

IPC (3件)：

G01M 11/00 , G02B 6/00 , H01S 3/00

FI (3件)：

G01M 11/00 R , H01S 3/00 B , G02B 6/00 A

Fターム (11件)：

2G086CC05 , 2G086CC06 , 2G086CC07 , 2H038AA01 , 2H038AA58 , 5F072AA01 , 5F072AA07 , 5F072JJ05 , 5F072KK05 , 5F072KK30 , 5F072MM09

引用特許：

審査官引用 (17件)

特開昭60-263827
特開昭60-263827
特開平2-258185

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