特許

J-GLOBAL ID：200903072067483460

生産管理システムの判定値算出装置、方法及び記録媒体

発明者： 木村 正三
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 野田 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-140948
公開番号（公開出願番号）：特開2002-333919
出願日： 2001年05月11日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
要約：

【要約】【課題】 製造ラインにおける異常判定のための判定値を容易かつ適正に自動設定する。【解決手段】 製造ラインでは複数の工程に分かれて材料を加工する。各工程の加工作業(A01)後に、中間製品の品質管理項目(例えば、各回路素子の線幅、膜厚、光沢度等)の測定を行い(A02)、測定結果がネットワークLAN(A03)を通じて生産管理システム(A04)へ送られる。生産管理システム(A04)には、測定結果の合格・不合格判定プログラム(A05)、及び判定値データベース(以下、DBという)(A06)が搭載されており、判定値DB(A06)を検索して得られた判定値(A07)と測定値(A03)を比較して、OKまたはNGの判定結果(A08)を出力する。この判定結果は、結果表示用ユーザ端末(A09)や各工程の判定表示機(A10)に表示される。

請求項（抜粋）：

製造ラインに設置した測定機から得られる測定値を判定値と比較することにより、前記製造ラインに流通する製品の品質判定を行なう生産管理システムの判定値算出装置において、過去に測定された測定値を保存する蓄積手段と、前記判定値を算出するための計算式を設定する計算式設定手段と、前記蓄積手段に保存された測定値を検索する検索条件を設定する検索条件設定手段と、前記蓄積手段から検索された測定値に含まれる異常値を除去する除去方法を設定する異常値除去方法設定手段と、製造条件の変更を入力する入力手段と、前記入力手段からの製造条件の変更入力があった場合に、各工程毎に前記検索条件設定手段に設定された検索条件に基づいて前記蓄積手段に保存された測定値を検索し、前記異常値除去方法設定手段に設定された除去方法によって前記検索された測定値から異常値を除去し、この異常値を除去した測定値に対して前記計算式設定手段に設定された計算式に基づいて計算を行ない判定値を算出する算出手段と、を有することを特徴とする生産管理システムの判定値算出装置。

IPC (3件)：

G05B 23/02 302 ,  G05B 19/418 ,  G06F 17/60 108

FI (3件)：

G05B 23/02 302 J ,  G05B 19/418 Z ,  G06F 17/60 108

Fターム (12件)：

3C100AA57 ,  3C100AA62 ,  3C100BB27 ,  3C100CC02 ,  3C100EE06 ,  5H223AA05 ,  5H223BB04 ,  5H223CC06 ,  5H223DD05 ,  5H223DD07 ,  5H223DD09 ,  5H223EE06