特許

J-GLOBAL ID：200903072069021782

3次元物体の形状計測方法及び装置

発明者： 近藤 俊明 ,  飯島 克己 ,  矢野 光太郎 ,  倉橋 直 ,  石川 基博 ,  真継 優和
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-198323
公開番号（公開出願番号）：特開平9-042940
出願日： 1995年08月03日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：

【要約】【課題】 被計測体の3次元物体の形状を高精度に計測する。【解決手段】 左右の撮像装置70、80によりまず被計測体のみを撮像してその画像データをメモリ90、100に保持し、次にパターン投影器20により2次元パターン10を被計測体に投影した状態で撮像し、その画像データからメモリ90、100に保持した画像データを加算器110、120で減算して2次元パターン10のみの画像データを求め、これに基づいて形状演算部50はパターン投影法による形状演算を行う。この演算結果を利用して形状演算部130はメモリ90、100に保持した画像データから両眼立体視法による形状演算を行う。

請求項（抜粋）：

2次元パターンを投影された被計測体を複数の異る視点から撮像して得られる画像データを用いて上記被計測体の形状計測を行う第1の計測工程と、上記2次元パターンを投影しないときと投影したときにおいてそれぞれ上記複数の視点から上記被計測体を撮像して得られる画像データを用いて上記被計測体の形状計測を行う第2の計測工程とを有する3次元物体の形状計測方法。

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00 ,  H04N 13/00

FI (5件)：

G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 C ,  G01C 3/06 V ,  H04N 13/00 ,  G06F 15/62 415