レーザ利用の測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：武顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-105543
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311010
出願日： 1994年05月19日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】測定効率を低下することなく、安全性に優れ、消費電力が少なく、かつレーザの長寿命化が可能なレーザ利用の測定装置を提供する。【構成】半導体レーザ1から放射されるレーザ光を被測定物6に照射し、被測定物からの反射光を光検出器8にて検出して所望の測定を行う。レーザ駆動回路2に、半導体レーザに駆動電流I1 を与える第1の電流駆動回路11と、第1の電流駆動回路11の出力端に駆動電流ΔIを加える第2の電流駆動回路12と、オート・パワー・コントローラ(APC)13と、該APCに設けられた第1のスイッチ14と、前記第2の電流駆動回路12の出力端に設けられた第2のスイッチ15と、これら第1及び第2のスイッチ14,15を切り換えるコンパレータ16とを備える。

請求項（抜粋）：

レーザから放射されるレーザ光を被測定物に照射し、被測定物からの反射光を光検出器にて検出して所望の測定を行うレーザ利用の測定装置において、前記反射光の強度を検出し、該反射光強度が予め定められた値以下であるときには、その信号に基づいてレーザ駆動回路を制御し、前記レーザの出力を自動的に低下させることを特徴とするレーザ利用の測定装置。

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