特許
J-GLOBAL ID：200903072080332080
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-017342
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225124
出願日： 1994年02月14日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：
【要約】【目的】この発明の測距装置にあっては、被写体が近い場合であってもセンサ出力レベルを飽和させずに正確な距離判定を行うために、所望の積分レベルが得られるように投光パルス幅を調整することを特徴とする。【構成】投光部1から被写体に向けて予め定められたパルス幅で光束が繰返し投光され、その反射光が複数の受光素子から成るラインセンサ等の受光部2で受光される。この受光部2の積分中の信号レベルが積分量チェック部3でチェックされる。そして、上記積分量と投光回数の関係により、投光部1の最終の投光パルス幅が投光パルス幅決定部4で決定される。
請求項（抜粋）：
測距対象物に向けてパルス状光束を繰返し投光する投光手段と、上記測距対象物からの上記パルス状光束の反射光を受光する複数の電荷蓄積型光電変換素子から成る受光手段と、この受光手段からの出力信号に基いて上記反射光のピーク受光位置を検出し、このピーク受光位置から上記測距対象物までの距離を演算する距離演算手段とを具備する測距装置に於いて、上記電荷蓄積型光電変換素子の積分動作中の信号レベルを検出する積分量チェック手段と、この積分量チェック手段によって検出された上記信号レベルと、上記投光手段による投光回数に基いてパルス状光束の投光パルス幅を決定する投光パルス幅決定手段とを具備することを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
