特許
J-GLOBAL ID：200903072100061364
光蓄積型レーザーイオン化質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
大塚 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-257696
公開番号（公開出願番号）：特開2006-073437
出願日： 2004年09月03日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：
【課題】 キャリヤガスに含まれる極微量の物質を効率よく同定・定量できる超音速ジェット多光子共鳴イオン化による分析装置を提供する。【解決手段】 レーザーイオン化質量分析装置は、サンプル分子を含んだキャリヤガスを真空室17内へパルス的に噴射する12と、噴射されたキャリヤガス中のサンプル分子を選択的に光反応させるためのレーザー光照射システムと、光反応によって生成されたサンプル分子イオンを引き出す電場を形成するリペラー電極18及び引き出し電極19と、引き出されたサンプル分子イオンを質量分析する質量分析装置26とを有する。レーザー光照射システムは、パルスガス噴射装置12から噴射されて真空室17を並進するパルスガスが、フラット部を有するフラットトップ台形型圧力分布からフラット部を有しない三角型圧力分布に遷移する位置付近において、レーザー光をサンプル分子へ照射するように設定される。 【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
サンプル分子を含んだキャリヤガスを真空室内へパルス的に噴射するパルスガス噴射装置と、真空室内に噴射されたキャリヤガス中のサンプル分子を選択的に光反応させるためのレーザー光を照射するレーザー光照射システムと、前記光反応によって生成されたサンプル分子イオンを引き出すための電場を形成するリペラー電極及び引き出し電極と、このリペラー電極及び引き出し電極によって引き出されたサンプル分子イオンを質量分析する質量分析装置とを有するレーザーイオン化質量分析装置において、
前記レーザー光照射システムは、前記パルスガス噴射装置から噴射されて前記真空室を並進するパルスガスが、フラット部を有するフラットトップ台形型圧力分布からフラット部を有しない三角型圧力分布に遷移する位置付近において、レーザー光をサンプル分子へ照射するように設定されることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置。
IPC (5件)：
H01J 49/10
, G01N 27/62
, G01N 27/64
, H01J 49/04
, H01J 49/40
H01J49/10
, G01N27/62 V
, G01N27/64 B
, H01J49/04
, H01J49/40
5C038EE01
, 5C038EF03
, 5C038EF12
, 5C038EF25
, 5C038EF26
, 5C038GG07
, 5C038GH04
, 5C038GH08
, 5C038GH10
, 5C038GH11
, 5C038GH13
