特許

J-GLOBAL ID：200903072147037089

3次元形状計測装置および方法

発明者： 山口 義紀
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (3件)： 澤田 俊夫 ,  宮田 正昭 ,  山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-238217
公開番号（公開出願番号）：特開2004-077290
出願日： 2002年08月19日
公開日（公表日）： 2004年03月11日
要約：

【課題】多値パターンを対象物に投射した場合でも、パターンのエッジを確実に検出できるようにする。【解決手段】プロジェクタ11により複数のストライプパターンを対象物10に投光し、投光系と主点を異なる位置に配置したカメラ12にて、対象物10上のパターン投影像を撮像する。投光系にて投射される複数のストライプパターンは、それぞれが濃度勾配を持った傾斜パターン光であり、かつ多値のパターンにより構成される。例えば、モノクロの5種類の濃度勾配を持った多値のパターンを使用し、同じ繰り返しがないように、また隣接するパターン間にて0階調同士が並ばないように配列を行った。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

複数のストライプで構成されたパターンを対象物に投光する投光手段と、該投光手段と主点を異なる位置に配置した一乃至複数の撮像手段とから構成される3次元形状計測装置において、該ストライプに該ストライプの幅方向の濃度勾配を持たせることを特徴とする3次元形状計測装置。

IPC (2件)：

G01B11/25 ,  G06T1/00

FI (2件)：

G01B11/24 E ,  G06T1/00 315

Fターム (32件)：

2F065AA12 ,  2F065AA14 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB26 ,  2F065DD04 ,  2F065DD09 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK03 ,  2F065PP23 ,  2F065UU01 ,  2F065UU02 ,  2F065UU05 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03 ,  5B057DB05 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5B057DC30 ,  5B057DC36