特許

J-GLOBAL ID：200903072188176581

分析方法および自動分析装置

発明者： 百瀬 潤子 ,  今井 恭子 ,  松原 茂樹
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-274606
公開番号（公開出願番号）：特開2000-105236
出願日： 1998年09月29日
公開日（公表日）： 2000年04月11日
要約：

【要約】【課題】標識された物質と固定化された物質を利用して試料液中の目的物質を測定する方法において、より高感度な測定方法とその測定方法を使用する自動分析装置を提供する。【解決手段】反応容器20に試料液と固定化抗体35と標識抗体34を分注し反応させ結合体38を生成させたのち、反応容器20に磁石39を接近させ、結合体38を未反応の標識抗体34と分離した後、遊離剤14を作用させ結合体38から標識抗体36を遊離させる。遊離してきた標識抗体36の標識37の量を測定する。

請求項（抜粋）：

試料中の目的物質を測定するための方法において、a)固相に固定化されている物質Xと、b)標識物によって標識されている物質Yを、c)試料中の目的物質と物質Xと物質Yの特異的な結合反応により物質X-目的物質-物質Yの結合体を生成させ、d)未反応の物質Yを除去し、e)物質X-目的物質-物質Yの結合体から物質Yの標識物を遊離させた後に検出することで試料中の目的物質を検出することを特徴とする分析方法。

IPC (7件)：

G01N 33/543 531 ,  G01N 33/543 501 ,  G01N 33/543 511 ,  G01N 33/543 515 ,  G01N 33/543 525 ,  G01N 33/543 ,  G01N 33/53

FI (8件)：

G01N 33/543 531 ,  G01N 33/543 501 A ,  G01N 33/543 511 A ,  G01N 33/543 515 A ,  G01N 33/543 525 U ,  G01N 33/543 525 W ,  G01N 33/543 525 Z ,  G01N 33/53 U