特許
J-GLOBAL ID：200903072192432770
撮像系パラメータ測定法とその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 富士弥
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-060658
公開番号（公開出願番号）：特開平7-270124
出願日： 1994年03月30日
公開日（公表日）： 1995年10月20日
要約：
【要約】【目的】 撮像系パラメータ測定において、測定のための試験対象設置を容易にし、その測定処理を高速にし、計測誤差等の処理結果への伝搬を回避する。【構成】 平面かつ高精度な画素配列の画像表示装置1を測定対象の視覚センサ2の前方に適度に傾けて設置する。これにより試験対象設置について、融通性を高め、容易性を得る。この視覚センサ2からの入力情報により画像表示装置1上の図形を逐次変更し、視覚センサ2の観測図形および画像表示装置1上の表示図形両方の幾何学情報から撮像系パラメータの計算を行う。このように純粋な幾何学計算によることにより、解の収束性、初期値問題等を無くし、一撃的に解を求める事を可能とする。また、画像表示装置1を用いることで、反転表示、明度変化等による複数枚の画像の差分処理のみで図形の検出を可能とし、図形検出精度を向上させて誤差を少なくし、処理結果への影響を軽減させる。
請求項（抜粋）：
平面かつ高精度な画素配列を有する画像表示手段を計測対象である視覚センサの前方に設置して該視覚センサにより撮影し、該視覚センサに観測される画像表示手段上の描画図形を情報としてその図形を変化させる段階と、該視覚センサの入力図形と画像表示装置上の描画図形の情報より視覚センサの空間中での位置姿勢と、レンズ及び撮像素子を含む撮像系に起因するパラメータを決定する段階を有し、上記段階を一回または複数回繰り返すことを特徴とする撮像系パラメータ測定法。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G06T 7/00
, G06T 3/00
G06F 15/62 415
, G06F 15/66 360
