特許

J-GLOBAL ID：200903072194122981

プリント基板検査装置

発明者： 橋爪 茂
出願人/特許権者： 太洋工業株式会社
代理人 (1件)： 杉本 勝徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-244989
公開番号（公開出願番号）：特開平6-094768
出願日： 1992年09月14日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：

【要約】【目的】被検査プリント基板の検査治具への位置合わせを正確に自動化する装置に関し、上下の検査治具と被検査プリント基板の三者を正確に位置合わせすることの出来る検査装置を提供すること。【構成】CCDカメラ1A,1Bとを上部検査治具2の下側に導入配置し、上部検査治具2に設けられたガイド孔41,42とその周囲のランドパターン部41’,42’と、この孔に挿通されたガイドピン31,32を撮像し、ガイド孔41,42の中心の座標とランドパターン部41’,42’の外形の中心の座標とガイドピン31,32の中心のずれを算出し、上部調節機構8或は下部調節機構9によって上部検査治具2又は下部検査治具3を微動させて位置合わせする。

請求項（抜粋）：

基板位置識別構造とガイド孔とが形成された被検査プリント基板を検査するプリント基板検査装置において、上部検査治具と下部検査治具と被検査プリント基板との間の相対位置を調節する調節機構と、前記上部検査治具に形成された上部位置識別構造と、下部検査治具に立設されたガイドピンと、上部検査治具と下部検査治具との間に導入配設されて、前記上部位置識別構造,前記ガイド孔,該ガイド孔に挿通されたガイドピン,及び前記基板位置識別構造を撮像する撮像手段と、該撮像手段による撮像デ-タに基づいて、前記上部位置識別構造と、前記ガイド孔と、前記ガイドピンと、前記下部位置識別構造との平面的な相対的位置ずれを検出する画像処理手段と、前記位置ずれに基づいて前記調節機構を制御して、下部検査治具,被検査基板,及び上部検査治具の位置ずれを補正する補正制御手段とを設けたことを特徴とするプリント基板検査装置。