シワ・レプリカ像の鑑別法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-060636
公開番号（公開出願番号）：特開2004-230117
出願日： 2003年01月30日
公開日（公表日）： 2004年08月19日
要約：

【課題】シワ評価値という数値の形に算出できる、シワ或いはその予兆の鑑別法を提供する。【解決手段】皮膚より採取したレプリカ標本の鑑別法であって、レプリカ標本に対し、90°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、10〜40度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも2本の直線(走査線)を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも2本の直線(走査線)の特性とを指標とし、レプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度を鑑別する。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

皮膚より採取したレプリカ標本の鑑別法であって、レプリカ標本に対し、90°の位置に顕微鏡のレンズを配し、レプリカ標本に対して、10〜40度の入射角で光を照射し、入射光によって生じるレプリカ標本の表面の凹凸の陰影像を顕微鏡を通して画像として取り込み、該画像上に同一の点を通過する少なくとも2本の直線(走査線)を設定し、該直線ごとに、同一直線上に存在する画素の輝度の代表値と少なくとも2本の直線(走査線)の特性とを指標とすることを特徴とする、レプリカ標本上に皮膚の凹凸によって生じた、凹凸の程度の鑑別法。

IPC (4件)：

A61B5/107 , A61B5/00 , G01B11/30 , G01N21/84

FI (4件)：

A61B5/10 300Q , A61B5/00 M , G01B11/30 Z , G01N21/84 Z

Fターム (27件)：

2F065AA49 , 2F065CC16 , 2F065FF04 , 2F065FF42 , 2F065GG02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065QQ03 , 2F065QQ18 , 2F065QQ41 , 2G051AA90 , 2G051AB10 , 2G051AB20 , 2G051BA20 , 2G051CA04 , 2G051CA11 , 2G051CC09 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EA17 , 2G051EC03 , 2G051EC06 , 4C038VA04 , 4C038VB23 , 4C038VC02 , 4C038VC05 , 4C038VC20

引用特許：

出願人引用 (4件)

特開平2-046833
肌の評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-124067 出願人：ポーラ化成工業株式会社
皮膚表面形態特徴検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-168629 出願人：ポーラ化成工業株式会社

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審査官引用 (4件)

特開平2-046833
肌の評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-124067 出願人：ポーラ化成工業株式会社
皮膚表面形態特徴検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-168629 出願人：ポーラ化成工業株式会社

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