特許

J-GLOBAL ID：200903072206403310

プリント基板検査方法および装置

発明者： 岡田 六男
出願人/特許権者： 日機装株式会社
代理人 (1件)： 円城寺 貞夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-157898
公開番号（公開出願番号）：特開2001-337050
出願日： 2000年05月29日
公開日（公表日）： 2001年12月07日
要約：

【要約】【目的】多種類のプリント基板の検査が可能であり、スルーホールの検査または配線パターンとスルーホールの検査を短時間で実行することのできるプリント基板検査方法および装置を提供する。【構成】プリント基板8の一方の面側に設けられた光源3から、前記プリント基板に設けられたスルーホール84〜87の一端部に検査光を入射する手順と、前記プリント基板の他方の面側の前記スルーホールの他端部から射出される検査光を検出する手順と、前記検査光の検出強度から、前記プリント基板に設けられた前記スルーホールの良否の検査を行う手順とを有するものである。

請求項（抜粋）：

プリント基板(8)の一方の面側に設けられた光源(3)から、前記プリント基板(8)に設けられたスルーホール(84〜87)の一端部に検査光を入射する手順と、前記プリント基板(8)の他方の面側の前記スルーホール(84〜87)の他端部から射出される検査光を検出する手順と、前記検査光の検出強度から、前記プリント基板(8)に設けられた前記スルーホール(84〜87)の良否の検査を行う手順とを有するプリント基板検査方法。

IPC (2件)：

G01N 21/956 ,  H05K 3/00

FI (2件)：

G01N 21/956 B ,  H05K 3/00 S

Fターム (10件)：

2G051AA68 ,  2G051AB02 ,  2G051AC21 ,  2G051BB01 ,  2G051BB07 ,  2G051CA04 ,  2G051CC17 ,  2G051DA01 ,  2G051DA07 ,  2G051EA11