特許
J-GLOBAL ID：200903072224554601
V溝の測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
国平 啓次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-355163
公開番号（公開出願番号）：特開平6-185982
出願日： 1992年12月17日
公開日（公表日）： 1994年07月08日
要約：
【要約】【目的】 従来は、V溝16,20の形状を、透過光による画像処理、接触式輪郭形状測定機などにより測定し、V溝の各センタ位置を算出していた。しかし、V溝の角度差、表面の粗さ、うねり等の影響を受け、測定精度が悪かった。この課題を解決する。【構成】 V溝16,20に円柱状ピン30,32を置き、上方から画像センサ42で反射照明により観察し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセンタ位置を求める。画像処理したとき、光量によりピン30,32の外側位置(直径)は変化するが、センタ位置は変化しない。よって、V溝の形状や面精度に関係なく、高精度でV溝のセンタ位置を測定できる。ピンの代わりに球を用い、真横から画像センサで測定すれば、同様な結果が得られる。
請求項（抜粋）：
z方向のV溝に所定形状のピンを置き、y方向の上方から画像センサで、反射照明により観察し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセンタ位置を求める、V溝の測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G02B 6/38
, G02B 6/40
