特許
J-GLOBAL ID：200903072314877906
外観検査装置及びPTPシートの製造装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川口 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-156790
公開番号（公開出願番号）：特開2007-327752
出願日： 2006年06月06日
公開日（公表日）： 2007年12月20日
要約：
【課題】PTPシートの製造過程における外観不良検査に際し、撮像領域の各部分を適切な光量で一度に撮像可能であり、しかも、撮像処理が比較的簡単な外観検査装置、及び、PTPシートの製造装置を提供する。【解決手段】カメラ23は、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)23M及び撮像素子23Sを有し、DMD23Mを介して、撮像素子23Sによる撮像を行う。CPU及び入出力インターフェース47は、画像メモリ41に記憶された画像データに基づいて調整対象領域毎に露光条件を設定し、露光条件データを作成して、露光条件メモリ42に記憶する。そして、露光条件メモリ42に記憶した露光条件データに基づいてDMD23Mを駆動制御し、調整対象領域毎に撮像素子23Sの露光時間を調整する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
ポケット部に錠剤が収容された帯状の包装用フィルムに対して撮像用の光を照射する照射手段と、
該照射手段にて照射された光により、予め定められる撮像領域を撮像する撮像手段と、
画像データを記憶するための画像データ記憶手段と、
前記撮像手段による撮像結果として出力される画像データを、前記画像データ記憶手段に記憶させる撮像制御手段と、
該撮像制御手段にて前記画像データ記憶手段に記憶された画像データに基づき、検査を実行可能な検査実行手段とを備えた外観検査装置において、
前記撮像手段は、デジタルマイクロミラーデバイス及び撮像素子を有し、前記デジタルマイクロミラーデバイスを介して、前記撮像素子による撮像を行うようになっており、
前記撮像手段による前記撮像領域の中の調整対象領域毎に前記撮像素子の露光条件を設定する露光条件設定手段と、
該露光条件設定手段にて設定される前記露光条件に基づき、前記調整対象領域毎に前記撮像素子の露光を調整するように、前記デジタルマイクロミラーデバイスを駆動制御可能な駆動制御手段とを備えていることを特徴とする外観検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/85
, G01N 21/892
, B65B 57/10
G01N21/85 A
, G01N21/892 A
, B65B57/10 C
2G051AA02
, 2G051AA32
, 2G051AB01
, 2G051AB03
, 2G051AB10
, 2G051BA20
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051CC11
, 2G051CD01
, 2G051DA06
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA17
, 2G051ED22
