特許
J-GLOBAL ID:200903072323164998

媒質変動検出方式

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 洋介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-153723
公開番号(公開出願番号):特開2002-350276
出願日: 2001年05月23日
公開日(公表日): 2002年12月04日
要約:
【要約】【課題】 堤体表面フェーシング内部に水分計などのセンサを多数配置することなく、早期の漏水発生を広域的に検知することが可能な媒質変動検出方式を提供することである。【解決手段】 均一媒質内部に敷設されたレッヘル線4と、レッヘル線4に対して所定の時間間隔で電気パルスを出力するパルス発生回路1と、レッヘル線4とパルス発生回路1の接続部に接続されたオシロスコープ2を有する。オシロスコープ2は、パルス発生回路1からレッヘル線4へ入射した入射波とレッヘル線4内部で生じる反射波を観測すると共に、前記入射波の入射から前記反射波の発生までにかかる時間を測定する。前記測定された時間から均一媒質内部の変動発生位置を検出する。
請求項(抜粋):
均一媒質内部に敷設されたレッヘル線と、該レッヘル線に対して所定の時間間隔で電気パルスを出力するパルス発生回路と、前記レッヘル線と前記パルス発生回路の接続部に接続された反射波測定回路を有し、前記反射波測定回路は、前記パルス発生回路から前記レッヘル線へ入射した入射波と該レッヘル線内部で生じる反射波を観測すると共に、前記入射波の入射から前記反射波の発生までにかかる時間を測定し、前記測定された時間から均一媒質内部の変動発生位置を検出することを特徴とする媒質変動検出方式。
IPC (5件):
G01M 3/16 ,  G01N 27/02 ,  G01N 33/38 ,  G01N 33/42 ,  E02B 7/06
FI (6件):
G01M 3/16 J ,  G01M 3/16 F ,  G01N 27/02 A ,  G01N 33/38 ,  G01N 33/42 ,  E02B 7/06
Fターム (17件):
2G060AA05 ,  2G060AC01 ,  2G060AE12 ,  2G060AF06 ,  2G060AF11 ,  2G060HA03 ,  2G060HC07 ,  2G060HC09 ,  2G060HC18 ,  2G060HD03 ,  2G060HE03 ,  2G067AA48 ,  2G067BB24 ,  2G067CC02 ,  2G067DD27 ,  2G067EE05 ,  2G067EE08

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