特許
J-GLOBAL ID:200903072333145045
抵抗成分漏電計
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-245573
公開番号(公開出願番号):特開平10-068749
出願日: 1996年08月27日
公開日(公表日): 1998年03月10日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】分割型変流器で単相回路の電線を把握するだけで、抵抗成分漏れ電流IERが測定できる抵抗成分漏電計を実現する。【解決手段】交流導体を1次導体とし、2次巻線を有する変流器と、1次導体から、1次導体と2次巻線との間の浮遊静電容量CSを通り、装置の内部インピーダンスZINSを通り、外部インピーダンスZOUTSを通って大地などに流れる、浮遊電流ISを計測するIS計測回路と、総合インピーダンス(CST+ZINS+ZOUTS)を静電容量に十分近くするZINSと、変流器を貫通して大地へ流れる全漏れ電流IE0を、 変流器の2次巻線の出力から計測するIE0計測回路と、IE0計測回路の出力値とIS計測回路の出力値とから、IE0の抵抗成分である抵抗成分漏れ電流IERを計測するIER計測回路とを有する。
請求項(抜粋):
交流導体を1次導体とし、2次巻線を有する変流器と、1次導体から1次導体と2次巻線との間の浮遊静電容量CSを通り、装置の内部インピーダンスZINSを通り外部インピーダンスZOUTSを通って大地などに流れる浮 遊電流ISを計測するIS計測回路と、総合インピーダンス(CST+ZINS+ZOUTS)を静電容量に十分近くするZINSと、変流器を貫通して大地へ流れる全漏れ電流IE0を変流器の2次巻線の出力から計測するIE0計測回路と、IE0計測回路の出力値とIS計測回路の出力値とからIE0の抵抗成分である抵抗成分漏れ電流IERを計測するIER計測回路とを有する事を特徴とする抵抗成分漏電計。
IPC (5件):
G01R 27/02
, G01R 27/18
, G01R 31/02
, H02H 3/16
, H02H 3/33
FI (5件):
G01R 27/02 E
, G01R 27/18
, G01R 31/02
, H02H 3/16 B
, H02H 3/33
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