特許

J-GLOBAL ID：200903072360616920

ゼータ電位評価方法およびゼータ電位測定装置

発明者： 福井 俊文
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-143818
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332621
出願日： 1997年06月02日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 ゼータ電位を用いてこれまでにない新しい評価基準を得ることができ、固-液界面における動電現象をより多面的に評価することのできる方法と、その方法に準じた評価結果を出力することのできるゼータ電位測定装置を提供する。【解決手段】 固-液界面の動電現象を、複数回にわたり互いに独立的に測定し、その各回の測定データから個々にゼータ電位を算出し、その算出した複数のゼータ電位をこの固-液界面の荷電状態を表す分布量として捉え、統計的手法に基づく処理を施してその分布量を一つまたは複数の所要の表現形式で表すことで、一意の値として測定したゼータ電位に比して、新たな評価基準を得る。

請求項（抜粋）：

固-液界面の荷電状態をゼータ電位を用いて評価する方法であって、固-液界面の動電現象を、複数回にわたって互いに独立的に測定し、その各回の測定データから個々にゼータ電位を算出し、その算出した複数のゼータ電位を当該固-液界面の荷電状態を表す分布量として捉え、統計的手法に基づく処理を施してその分布量を一つまたは複数の所要の表現形式で表すことを特徴とするゼータ電位評価方法。