特許
J-GLOBAL ID：200903072380949411
光学素子およびその光学検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前島 肇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-072650
公開番号（公開出願番号）：特開平10-253827
出願日： 1997年03月10日
公開日（公表日）： 1998年09月25日
要約：
【要約】【課題】 剥離フィルムおよび/または保護フィルムを積層したままの状態で製造工程中の検査が可能な光学素子およびその検査方法を提供する。【解決手段】 光学補償板3、偏光板などとともに、実質的に光学的等方性のポリオレフィンからなる剥離フィルムおよび/または保護フィルム5、2を用いることを特徴とする光学素子1a、およびこれらのフィルムを剥離せずに光学素子を光学的に検査することを特徴とする光学検査方法。
請求項（抜粋）：
実質的に光学的等方性を示すポリオレフィンフィルムを剥離フィルムおよび/または保護フィルムとして用いたことを特徴とする光学素子。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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