X線検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：宮井暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-258610
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083104
出願日： 1999年09月13日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：

【要約】【課題】両面に部品が実装されたプリント基板の上面と下面の実装部品や半田などの構成部分を上面と下面に分離して認識する。【解決手段】被写体にX線を照射するX線源4と、被写体のX線撮影像を受像するセンサ5と、被写体2,3の被写面に対して垂直方向にX線を照射可能でかつ被写体2,3の被写面に対して垂直方向から一定角度ずらした斜め方向にX線を照射可能なようにX線源4を支持する支持手段と、垂直方向に照射したときに撮影した画像と斜め方向に照射したときに撮影した画像とを比較する比較手段と、比較した画像の情報を演算する情報演算手段とを備えた。基板1の上面と下面の同じ位置に被写体2,3が実装されている場合、被写体2,3に対してX線の照射方向のみを変えることにより上面の画像と下面の画像を分離できるので、比較的簡易な構成にて両面実装基板の検査が可能となる。

請求項（抜粋）：

被写体にX線を照射するX線源と、前記被写体のX線撮影像を受像するセンサと、前記被写体の被写面に対して垂直方向にX線を照射可能でかつ前記被写体の被写面に対して垂直方向から一定角度ずらした斜め方向にX線を照射可能なように前記X線源を支持する支持手段と、前記垂直方向に照射したときに撮影した画像と前記斜め方向に照射したときに撮影した画像とを比較する比較手段と、比較した画像の情報を演算する情報演算手段とを備えたX線検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 , G01B 15/00

FI (2件)：

G01N 23/04 , G01B 15/00

Fターム (31件)：

2F067AA62 , 2F067AA65 , 2F067CC00 , 2F067CC14 , 2F067EE00 , 2F067HH04 , 2F067KK06 , 2F067LL02 , 2F067LL16 , 2F067PP12 , 2F067RR24 , 2F067RR30 , 2F067RR35 , 2G001AA01 , 2G001AA10 , 2G001BA11 , 2G001DA01 , 2G001DA02 , 2G001DA09 , 2G001FA01 , 2G001FA06 , 2G001FA29 , 2G001GA13 , 2G001HA12 , 2G001HA13 , 2G001JA01 , 2G001JA07 , 2G001JA11 , 2G001JA20 , 2G001LA11 , 2G001PA11

前のページに戻る