特許
J-GLOBAL ID：200903072431531034
半導体集積回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-279525
公開番号（公開出願番号）：特開平5-119339
出願日： 1991年10月25日
公開日（公表日）： 1993年05月18日
要約：
【要約】【目的】出力電圧が高電圧化しても、従来のIC専用試験装置の電圧範囲のままで容易に試験を実行できる液晶駆動用の半導体集積回路を提供する。【構成】テストおよび通常動作とを切替える切替回路16を備える。出力電圧を順次切替えて出力するマルチプレクサ回路17を備える。マルチプレクサ回路17の出力を基準電圧と比較するコンパレータ回路18を備える。コンパレータ回路18の出力電圧を変換する電圧変換回路19を備える。
請求項（抜粋）：
テスト信号により制御されテストおよび通常動作のいずれか一方の状態とするよう切替える切替回路と、それぞれの制御信号に基ずいてそれぞれ入力される複数の電圧レベルのいずれか1つをそれぞれ選択する第一および第二のマルチプレクサと、予め定めた順序で前記第一および第二のマルチプレクサの出力のいずれか一方を順次選択する第三のマルチプレクサ回路と、前記第三のマルチプレクサ回路の出力を予め定めた基準電圧と比較するコンパレータ回路と、前記コンパレータ回路の出力電圧を変換する電圧変換回路とを備えることを特徴とする半導体集積回路。
IPC (8件)：
G02F 1/1345
, G01R 31/28
, G02F 1/133 505
, G09G 3/36
, H01L 21/66
, H01L 27/04
, H01L 29/784
, G09G 3/20
G01R 31/28 M
, H01L 29/78 311 E
