特許
J-GLOBAL ID:200903072445558989

超音波自動疵種判別方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 河野 登夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-171117
公開番号(公開出願番号):特開平7-005155
出願日: 1993年06月16日
公開日(公表日): 1995年01月10日
要約:
【要約】【目的】 正確,且つ速やかに疵種を判別することが可能な超音波自動疵種判別方法を提供する。【構成】 被検査材1によるエコーは、探触子2を介してパルサレシーバ3にて受信し、A/D変換ボード4にてA/D変換した後、波形特徴量有無判定回路5へ与える。波形特徴量有無判定回路5は、波形S/N比を越えたか否かを判定し、波形特徴量を‘有’と判定した場合は、その波形の特徴量を採取し、波形特徴量測定回路7を起動させて波形特徴量を抽出する。そして波形特徴量測定回路7にて規定の演算を施した後、このデータをニューロ回路8へ与える。ニューロ回路8には、疵種毎の特徴量のデータが与えられており、このデータに基づいてニューロ回路8へ与えられたデータを総合的に学習,判断して疵種の判別を行う。
請求項(抜粋):
超音波を使用して被検査材の表面の探傷を実施し、割れ,介在物等の反射要因による反射エコーを受信して、前記反射要因の種類を判別する超音波自動疵種判別方法において、前記エコーの中心周波数,ピーク周波数,立ち上がり時間,立ち下がり時間,持続時間及び波高の特性と欠陥面積とを採取し、この採取した特性を、予め反射要因毎の特性データが与えられているニューロ回路へ与えて、該ニューロ回路にて前記反射要因の種類を判別することを特徴とする超音波自動疵種判別方法。

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