特許
J-GLOBAL ID:200903072471044250

MIM構造素子およびその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-213744
公開番号(公開出願番号):特開平7-065710
出願日: 1993年08月30日
公開日(公表日): 1995年03月10日
要約:
【要約】【目的】MIM型電子放出素子などのMIM構造素子の特性向上をはかる。【構成】金属の陽極酸化により絶縁層を形成する際、化成電流密度を0.0001A/m2 以上かつ0.1A/m2以下に制限して、酸化速度を遅くする。【効果】膜質の良い絶縁膜を得ることができ、電子放出素子に適用すると、高い放出比が得られる。MIMダイオードなどの電子素子に適用すると低リーク電流特性など優れた特性を実現できる。
請求項(抜粋):
金属1,絶縁層,金属2の3つ以上の層を積層した構造を有する素子において、前記絶縁層を0.0001A/m2以上で0.1A/m2以下の化成電流密度で金属1を陽極酸化することにより形成することを特徴とするMIM構造素子の製造方法。
IPC (2件):
H01J 9/02 ,  H01J 1/30
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (2件)
  • 特開平2-121227
  • 特公昭40-010338

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