特許

J-GLOBAL ID：200903072497936809

記憶制御装置スーパーコンデンサ動的電圧スロットリング

発明者： ペーコン,ビクトリー・キイ ,  ワン,ヤンルー・フランク
出願人/特許権者： ドット・ヒル・システムズ・コーポレイション
代理人 (6件)： 川口 義雄 ,  小野 誠 ,  渡邉 千尋 ,  金山 賢教 ,  大崎 勝真 ,  坪倉 道明
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-524968
公開番号（公開出願番号）：特表2009-503724
出願日： 2006年06月23日
公開日（公表日）： 2009年01月29日
要約：

記憶制御装置は、主電源損失の間、電力を供給するためにエネルギーを蓄積するためのコンデンサパックと、コンデンサパックの温度を検出する温度センサと、第1の電圧値で動作する間にコンデンサパックの温度が所定の閾値を超えたことを検出し、コンデンサパックの予測される寿命が保証寿命未満であるかどうかを判断するCPUとを有する。予測される寿命が保証寿命未満である場合、コンデンサパックの寿命を高めるために、CPUはコンデンサパックの動作電圧を第2の値に低減する。一実施形態では、コンデンサパックの累積された正規化された実行時間が累積された歴実行時間より大きい場合、CPUは電圧を低減する。別の実施形態では、コンデンサパックの静電容量低下割合が歴静電容量低下割合より大きい場合、CPUは電圧を低減する。【その他】 本願に係る特許出願人の国際段階での記載住所は「アメリカ合衆国92008カリフォルニア州カールスバッド、ファラディ・ドライブ・2200、スイート・100」ですが、識別番号305049089を付与された国内書面に記載の住所が適正な住所表記であります。

請求項（抜粋）：

記憶制御装置内のコンデンサパックの保証寿命を実現する可能性を高めるための方法であって、 第1の電圧値で動作する間にコンデンサパックの温度が所定の閾値を超えたことを検出するステップと、 コンデンサパックの予測される寿命が保証寿命未満であるかどうかを判断するステップと、 コンデンサパックの前記予測される寿命が保証寿命未満である場合、コンデンサパックの予測される寿命を高めるために、コンデンサパックの前記動作電圧を第2の値に低減するステップとを含む、方法。

IPC (5件)：

G06F 1/28 ,  G06F 1/26 ,  H02J 7/00 ,  H02J 9/06 ,  G06F 3/06

FI (6件)：

G06F1/00 333C ,  G06F1/00 335Z ,  H02J7/00 Y ,  H02J7/00 X ,  H02J9/06 505C ,  G06F3/06 304Z

Fターム (25件)：

5B011DA13 ,  5B011EB07 ,  5B011GG00 ,  5B011JA05 ,  5B065BA01 ,  5B065EA26 ,  5B065EA27 ,  5G015FA06 ,  5G015GB05 ,  5G015JA11 ,  5G015JA32 ,  5G015JA33 ,  5G015JA34 ,  5G015JA36 ,  5G015JA37 ,  5G015JA41 ,  5G015JA62 ,  5G015KA04 ,  5G503AA01 ,  5G503BA01 ,  5G503BB03 ,  5G503DA05 ,  5G503DA13 ,  5G503EA08 ,  5G503GD03