特許
J-GLOBAL ID:200903072507220971

欠陥の非破壊検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 内田 明 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-300586
公開番号(公開出願番号):特開平8-160007
出願日: 1994年12月05日
公開日(公表日): 1996年06月21日
要約:
【要約】【目的】 フェライト系鉄鋼材料の非破壊検査方法に関する。【構成】 供試材の調査対象箇所の表面に樹脂層を介して磁気テープを貼り付け、該調査対象箇所の磁気テープを含む領域を一定磁化条件で磁化させ、調査対象箇所中の欠陥からの漏洩磁束によって磁気テープを磁化させたのち、磁気テープに記録された磁化パターンを観察することにより供試材中の欠陥を検出、評価することを特徴とするフェライト系鉄鋼材料の非破壊検査方法。【効果】 機械部品の表面に生成する微小なき裂の長さを、レプリカ法よりも高い精度で、供試材の表面を研磨することなく簡単な前処理のみで検出、評価することができる。
請求項(抜粋):
供試材の調査対象箇所の表面に樹脂層を介して磁気テープを貼り付け、該調査対象箇所の磁気テープを含む領域を一定磁化条件で磁化させ、調査対象箇所中の欠陥からの漏洩磁束によって磁気テープを磁化させたのち、磁気テープに記録された磁化パターンを観察することにより供試材中の欠陥を検出、評価することを特徴とするフェライト系鉄鋼材料の非破壊検査方法。
IPC (2件):
G01N 27/83 ,  G01N 21/89

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