特許

J-GLOBAL ID：200903072525493470

パラジウム触媒中のパラジウムの定量方法

発明者： 佐渡 直彦
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-246732
公開番号（公開出願番号）：特開2000-074858
出願日： 1998年09月01日
公開日（公表日）： 2000年03月14日
要約：

【要約】【課題】 パラジウム触媒のパラジウム量を、比較的高濃度域(約10Wt%程度)まで、迅速にかつ精度よく定量分析する方法を提供する。【解決手段】 基材となる粉末(例えば、四ホウ酸リチウム)と、所定の標準量の酸化パラジウム粉末と、バインダーとを所定の条件で混合・粉砕・加圧成形してなる固形体を標準試料として、パラジウム濃度(wt%)と蛍光X線強度との相関を、蛍光X線測定により予め検量しておき、測定対象の前記パラジウム触媒の粉末試料と、前記基材となる粉末と、バインダーとを所定の条件で混合・粉砕・加圧成形した固形体を蛍光X線測定し、前記パラジウム濃度(wt%)と蛍光X線強度との相関の検量結果に基づいて、測定対象のパラジウム触媒粉末試料中のパラジウムを定量する。

請求項（抜粋）：

酸化アルミニウムなどの担体粉末にパラジウムを担持してなるガスセンサ用のパラジウム触媒中のパラジウムの定量方法において、基材となる粉末と、所定の標準量の酸化パラジウム粉末と、バインダーとを所定の条件で混合・粉砕・加圧成形してなる固形体を標準試料として、パラジウム濃度(wt%)と蛍光X線強度との相関を、蛍光X線測定により予め検量しておき、測定対象の前記パラジウム触媒の粉末試料と、前記基材となる粉末と、バインダーとを所定の条件で混合・粉砕・加圧成形した固形体を蛍光X線測定し、前記パラジウム濃度(wt%)と蛍光X線強度との相関の検量結果に基づいて、測定対象のパラジウム触媒粉末試料中のパラジウムを定量することを特徴とするパラジウム触媒中のパラジウムの定量方法。

IPC (3件)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/36 ,  G01N 27/12

FI (3件)：

G01N 23/223 ,  G01N 27/12 Z ,  G01N 1/28 R

Fターム (13件)：

2G001BA04 ,  2G001BA05 ,  2G001FA01 ,  2G001FA02 ,  2G001FA08 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001LA11 ,  2G001NA17 ,  2G046AA31 ,  2G046BA03 ,  2G046DC04