イオン移動度分光計

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：清水敬一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-105740
公開番号（公開出願番号）：特開平8-054373
出願日： 1995年04月28日
公開日（公表日）： 1996年02月27日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】広範囲のイオンの種類に亘って拡張されたダイナミックレンジを備え得るガス分析器を提供する。【構成】イオン移動度分光計10は、中に配設された分析器12を備えたハウジング11を有する。分析器12は、好ましくは形状が円筒状である第一及び第二の縦方向に隔置された電極21,22を含む。電極の間の空間は、キャリアガスのソースと連通した分析ギャップ25を形成する。β放出器又はコロナ放電等のイオン化ソースが、分析ギャップ25と試料媒体ソースの間に併置され、イオンがギャップ内に入るためのイオン孔29を含む。分光計10は、イオンを測定するためのイオン検出器40を含む。分析ギャップ25内をキャリアガスが流れる際に、横向きの電場を生成する第一の直流電位及び第二の周期的非対称電位を印加するために、電気制御装置50が第一21及び第二の電極22に接続される。

請求項（抜粋）：

a.試料媒体の伝達のための少なくとも一つの入口と、少なくとも一つの出口とを有するハウジングと、b.ハウジング内に配設された分析器とを含み、ハウジングは、i.電極間の空間が縦方向の分析ギャップを形成し、分析ギャップがこれを通る流れのためにキャリアガスのソースと連通する少なくとも第一及び第二の縦方向に隔置された電極と、ii.分析ギャップに並置されかつ試料媒体のイオン化のために入口と連通するイオン化ソースと、iii.イオン化ソースと分析ギャップとの間に開口を形成するイオン孔と、iv.イオン孔の近傍に配設された第三の電極と、v.イオン孔から隔置された分析ギャップからの少なくとも一つの出口開口と、vi.分析ギャップからのイオンを測定するための上記電極から隔置されたイオン検出器と、vii.電極に接続され、A.第一、第二及び第三の電極に対して直流電圧を印加しかつB.分析ギャップ内をキャリアガスが流れる際に、横向きの電場を生成するように第一及び第二の電極に対して周期的非対称電位を印加する電気制御装置とを含むことを特徴とするイオン移動度分光計。

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