半導体集積回路およびそのテストモード設定回路

発明者：
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-086379
公開番号（公開出願番号）：特開2001-273274
出願日： 2000年03月27日
公開日（公表日）： 2001年10月05日
要約：

【要約】【課題】テストモード/他の動作モードを切り換え指定するための専用のテストモード設定用端子を省略したシングルチップマイコンなどを実現する。【解決手段】所定の機能を有する内部回路80と、電源投入時にリセット信号を発生するパワーオンリセット回路10と、パワーオンリセット回路の出力電位と別の信号線13の電位との論理処理を行い、内部回路に対してテストモード/他の動作モードの少なくとも2つのモードを選択的に指定するモード判定回路20とを具備する。

請求項（抜粋）：

所定の機能を有する内部回路と、電源投入時にリセット信号を発生するパワーオンリセット回路と、前記パワーオンリセット回路の出力電位と別の信号線の電位との論理処理を行い、前記内部回路に対してテストモード/他の動作モードの少なくとも2つのモードを選択的に指定するモード判定回路とを具備することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：

G06F 15/78 510 , G06F 15/78

FI (2件)：

G06F 15/78 510 P , G06F 15/78 510 K

Fターム (5件)：

5B062AA02 , 5B062CC01 , 5B062EE07 , 5B062HH09 , 5B062JJ05

引用特許：

審査官引用 (10件)

特開平2-310483
リセット装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-197140 出願人：沖電気工業株式会社, 日本電信電話株式会社
電子機器のテストモード制御方式
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-265620 出願人：松下電工株式会社

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