特許

J-GLOBAL ID：200903072636209330

放射線検出装置および電子顕微鏡および計測装置

発明者： 落合 勲
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-364069
公開番号（公開出願番号）：特開2000-187078
出願日： 1998年12月22日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：

【要約】【課題】高精度なX線検出を可能にし、複数個の検出素子を配置する場合も好適で、安価な放射線検出素子を提供する。【解決手段】電磁波検出回路や振動検出回路などの外部雑音信号を検出する手段を設け、上記検出信号および各検出器の前置増幅回路出力に依存する制御信号により、全前置増幅回路からの信号取り込みを一時的に禁止する手段を設けた。

請求項（抜粋）：

放射線検出素子と上記放射線検出素子からの信号を電圧信号に変換するための前置増幅回路と上記前置増幅回路からの信号波形をフィルタ、増幅、波高分析する信号処理装置と上記信号処理装置からの信号を解析する主制御装置と上記解析結果を出力、記憶する出力装置、記憶装置を備えている放射線検出装置において、上記前置増幅回路からの信号処理を一時的に禁止する手段を設けたことを特徴とする放射線検出装置。

IPC (5件)：

G01T 1/17 ,  G01N 23/22 ,  G01T 1/36 ,  H01J 37/244 ,  H01L 31/09

FI (5件)：

G01T 1/17 G ,  G01N 23/22 ,  G01T 1/36 A ,  H01J 37/244 ,  H01L 31/00 A

Fターム (43件)：

2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001BA04 ,  2G001BA05 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA06 ,  2G001EA03 ,  2G001FA06 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA09 ,  2G001GA13 ,  2G001GA16 ,  2G001HA01 ,  2G001JA11 ,  2G001KA01 ,  2G001RA03 ,  2G088EE30 ,  2G088FF03 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ01 ,  2G088KK06 ,  2G088KK07 ,  2G088KK29 ,  2G088LL11 ,  2G088LL23 ,  5C033NN04 ,  5C033NP08 ,  5F088AB03 ,  5F088AB16 ,  5F088BA03 ,  5F088BA15 ,  5F088BB06 ,  5F088EA04 ,  5F088EA06 ,  5F088JA20 ,  5F088KA01 ,  5F088KA08 ,  5F088KA10 ,  5F088LA07 ,  5F088LA08