特許
J-GLOBAL ID:200903072649864892
酸化皮膜測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
光石 俊郎 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-356944
公開番号(公開出願番号):特開2002-162221
出願日: 2000年11月24日
公開日(公表日): 2002年06月07日
要約:
【要約】【課題】 酸化皮膜測定方法において、仕上圧延途中における圧延材表面の酸化皮膜の厚さを正確に測定可能とする。【解決手段】 熱間圧延工程のオフライン時に、シール材滴下装置51により圧延材Sに対して溶融ガラスGを滴下して表面をシールすることでスケールの成長を防止し、このシール部(溶融ガラスG)を有する圧延材Sの一部を切り離してスケール厚さ測定用の試験片を作成し、試験片の冷却後にスケール厚さを測定する。
請求項(抜粋):
熱間圧延中の板材の表面を任意の位置でシールした後、オフラインにて、該板材のシール部における酸化皮膜の厚さを測定することを特徴とする酸化皮膜測定方法。
IPC (3件):
G01B 21/08
, B21C 51/00
, G01N 33/20
FI (3件):
G01B 21/08
, B21C 51/00 K
, G01N 33/20 K
Fターム (20件):
2F069AA46
, 2F069BB19
, 2F069CC06
, 2F069CC10
, 2F069GG06
, 2F069GG07
, 2F069PP04
, 2G055AA04
, 2G055AA12
, 2G055AA30
, 2G055BA09
, 2G055BA20
, 2G055DA08
, 2G055EA04
, 2G055EA06
, 2G055EA08
, 2G055EA10
, 2G055FA01
, 2G055FA02
, 2G055FA10
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