特許
J-GLOBAL ID:200903072654262744
塗装品質解析装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
的場 基憲
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-168683
公開番号(公開出願番号):特開2002-365213
出願日: 2001年06月04日
公開日(公表日): 2002年12月18日
要約:
【要約】【課題】 塗布直後や所定時間後における塗膜中の非揮発成分量を非接触で且つ短時間で計測し得る塗装品質解析装置を提供する。【解決手段】 被検査面の反射光からシンナ溶剤および樹脂の成分に吸収され易い波長成分と吸収され難い波長成分を測定する反射光検出手段2と、反射光検出手段2の各種情報からシンナ溶剤成分に吸収され易い波長成分の信号情報を得るシンナ吸収波長光測定手段6と、同情報からシンナ溶剤または樹脂の成分に吸収され難い波長成分の信号情報を得る非吸収波長光測定手段5と、各情報に基づいて塗膜厚を算出するウエット膜厚算出手段7と、各情報に基づいてシンナ溶剤成分の濃度を算出するシンナ溶剤成分量算出手段8と、シンナ溶剤成分の濃度情報から塗着後の非揮発成分量を算出する非揮発成分量算出手段9を備えた。
請求項(抜粋):
塗料を塗布した被検査面に赤外光を含む光を照射して被検査面からの反射光の中から塗料のシンナ溶剤成分および樹脂成分に吸収され易い波長成分と塗料のシンナ溶剤成分または樹脂成分に吸収され難い波長成分を測定する反射光検出手段と、反射光検出手段からの電気信号情報を増幅する信号増幅手段と、信号増幅手段からの各種電気信号情報からシンナ溶剤成分に吸収され易い波長成分の信号情報を取り出すシンナ吸収波長光測定手段と、信号増幅手段からの各種電気信号情報からシンナ溶剤成分または樹脂成分に吸収され難い波長成分の信号情報を取り出す非吸収波長光測定手段と、非吸収波長光測定手段からの信号情報と予め設定した塗料種情報と塗布後の経過時間とに基づいて塗膜厚を算出するウエット膜厚算出手段と、シンナ吸収波長光測定手段からの信号情報と塗料種情報とウエット膜厚算出手段からの塗膜厚情報とに基づいてシンナ溶剤成分の濃度を算出するシンナ溶剤成分量算出手段と、シンナ溶剤成分量算出手段からのシンナ溶剤成分の濃度情報から塗着後の非揮発成分量を算出する非揮発成分量算出手段を備えたことを特徴とする塗装品質解析装置。
IPC (5件):
G01N 21/35
, B05C 11/00
, B05D 3/00
, G01B 11/06
, G01N 21/27
FI (5件):
G01N 21/35 Z
, B05C 11/00
, B05D 3/00 D
, G01B 11/06 Z
, G01N 21/27 Z
Fターム (47件):
2F065AA30
, 2F065CC11
, 2F065CC31
, 2F065FF04
, 2F065FF41
, 2F065FF46
, 2F065GG02
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL26
, 2F065MM16
, 2F065SS04
, 2G059AA01
, 2G059AA03
, 2G059BB08
, 2G059BB10
, 2G059BB15
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF04
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ02
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059PP04
, 4D075BB92Z
, 4D075BB94Z
, 4D075CA48
, 4D075CB04
, 4D075DA06
, 4D075DA23
, 4D075DB02
, 4D075DC12
, 4D075EB22
, 4D075EB32
, 4D075EB35
, 4F042AA09
, 4F042AB00
, 4F042BA17
, 4F042BA22
, 4F042BA25
, 4F042DB01
, 4F042DH09
, 4F042ED10
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
塗装膜厚計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-098334
出願人:日産自動車株式会社
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