デバイス測定用ソケットおよびデバイス測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP1999003811
公開番号（公開出願番号）：WO2000-004394
出願日： 1999年07月15日
公開日（公表日）： 2000年01月27日
要約：

【要約】耐久性、信頼性に優れ、高周波特性が良好な高周波デバイス測定治具を提供することを目的とする。高周波デバイス測定治具10は、コプレナー線路によって入出力端子42、44と同軸コネクタ12、14との間が接続された基板16を備えている。この基板16は、ポリイミド樹脂等を用いたフレキシブル基板であり、裏側に配置された基板支持用シリコンゴム18によって、表面にセットされた高周波デバイス30側に押圧することにより、高周波デバイス30の表面形状に沿って変形し、対応する端子同士が確実に接触する。

請求項（抜粋）：

測定器に接続され、いずれかの面に入出力端子を含む複数のデバイス側端子が形成されたデバイスが電気的に接続されるデバイス測定用ソケットであって、可撓性を有するシート状の基板を有しており、前記基板の一方の面に、前記測定器と前記デバイスとの間で入出力する各種の信号に対応した複数の測定用端子を形成することを特徴とするデバイス測定用ソケット。

IPC (1件)：

G01R 31/26

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