回路基板検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：酒井伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-273501
公開番号（公開出願番号）：特開2001-091562
出願日： 1999年09月28日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
要約：

【要約】【課題】絶縁検査を短時間で精度良く行う。【解決手段】導体パターンP1,P2間に検査電圧を印加する検査用プローブ3a,3bと、複数の入力レンジを備え、切替制御された各入力レンジ毎の変換率で検査用プローブ3a,3b間の電流を電圧変換するレンジ回路12と、入力レンジを大電流用の入力レンジから小電流用の入力レンジに切替制御する制御回路11と、導体パターンP1,P2間の絶縁抵抗値を演算する演算回路14とを備え、導体パターン間の絶縁良否を判定する回路基板検査装置において、制御回路11は、良否判定に合致する入力レンジよりも大電流用の入力レンジのいずれかに切替制御した際に、検査用プローブ3a,3b間を流れる電流の電流値が、その入力レンジにおける定格電流範囲の下限値よりも小電流の基準値に低下したときに、レンジ回路12の入力レンジを小電流用の入力レンジに切り替える。

請求項（抜粋）：

検査対象としての一対の導体パターン間に検査電圧を印加する一対の検査用プローブと、切替制御可能な複数の入力レンジを備えると共に切替制御された前記各入力レンジ毎に予め規定された所定の変換率で前記一対の検査用プローブ間を流れる電流を電圧変換するレンジ回路と、前記検査電圧の印加時に前記レンジ回路の前記入力レンジを大電流用の入力レンジから小電流用の入力レンジに向けて順に切替制御する制御回路と、前記電圧変換された電圧の電圧値に基づいて前記一対の導体パターン間の絶縁抵抗値を演算する演算回路とを備え、前記演算された絶縁抵抗値に基づいて、その一対の導体パターン間の絶縁良否を判定する回路基板検査装置において、前記制御回路は、前記良否判定に合致する前記入力レンジよりも大電流用の入力レンジのいずれか1つに切替制御した際に、前記一対の検査用プローブ間を流れる電流の電流値が、その入力レンジにおける定格電流範囲の下限値よりも小電流の所定の基準値に低下したときに、当該レンジ回路の前記入力レンジを前記小電流用の入力レンジに向けて切り替える第1の切替制御を行うことを特徴とする回路基板検査装置。

IPC (3件)：

G01R 31/02 , G01R 27/02 , H05K 3/00

FI (3件)：

G01R 31/02 , G01R 27/02 R , H05K 3/00 T

Fターム (11件)：

2G014AA17 , 2G014AB59 , 2G014AC09 , 2G014AC18 , 2G028AA02 , 2G028AA05 , 2G028BB05 , 2G028BC01 , 2G028CG03 , 2G028DH03 , 2G028FK01

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開昭60-018771
特開昭62-168066
特開平1-170860

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