特許
J-GLOBAL ID：200903072694695279
擬似ランダムテストパターンを生成する移相器の線形依存性を低減する方法および線形依存性を低減した移相器
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-540388
公開番号（公開出願番号）：特表2003-515174
出願日： 2000年11月16日
公開日（公表日）： 2003年04月22日
要約：
【要約】移相器回路の自動合成方法を開示する。この方法は、並列の走査チェーンを駆動する擬似ランダムテストパターン生成器の構造的依存性を低減できる。双対性のコンセプトを用いて、線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR)の論理状態と、各出力チャネルへの入力の間隔を確保する回路とを関連付ける。複数段から成る線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR)の負荷の均衡を実現できる移相器ネットワークを生成する。この移相器ネットワークはまた、線形依存性を回路構成の複雑さを解消し、十分なチャネル分離を達成する。
請求項（抜粋）：
互いに接続される複数の記憶素子を備え、前記各記憶素子が出力を有する線形有限状態機械を生成し、 前記各記憶素子の負荷情報を獲得し、この負荷情報に基づいて、前記記憶素子の出力に接続される線形論理ゲートを有する線形移相器を生成し、 前記記憶素子の出力により前記線形移相器を駆動して、当該線形移相器を、任意の回路をテストする複数の走査チェーンに接続する工程を含むテスト用移相器の生成方法。
IPC (2件)：
G01R 31/28
, G01R 31/3183
G01R 31/28 G
, G01R 31/28 Q
2G132AA01
, 2G132AB01
, 2G132AC09
, 2G132AG05
, 2G132AK29
, 2G132AL09
