特許
J-GLOBAL ID：200903072695316328
テスト生成方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-149171
公開番号（公開出願番号）：特開平5-341011
出願日： 1992年06月09日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 半導体集積回路のテストにおいて、生成されるテストデータ量を小さくし、テスト実行時間を短縮する。【構成】 テスト生成の手続きを表す流れ図において、ステップ101で作成された故障表の中から故障を1個取り出し目標故障とする(103)。その目標故障がそれまでに生成されたテストパターンによってまだ検出されていないならば(104)、ステップ105でその目標故障を検出するテストパターンを生成する。生成されたテストパターンが複数ならば(106)、それらのテストパターンの中から数個選び(109)、故障シミュレーションをそれぞれについて行い(107)、それぞれのパターンで検出される故障とその数を記録し(110)、ステップ111で最も多くの故障を検出するパターンをテストパターンとして選ぶ。ステップ108で故障表に更新する。この手続きをすべての故障に対して繰り返す。
請求項（抜粋）：
テストパターン生成と故障シミュレーションを組み合わせて処理を行うテスト生成方法において、定義された故障の中から1つを選んで目標故障とし、前記目標故障を検出するテストパターンをテストパターン生成手法によって生成し、生成されたパターンのうち数本を選び、それぞれのパターンについて故障シミュレーションを行い、前記選択されたパターンが検出できる故障を求め、最も検出故障数の多いものを前記目標故障に対するパターンとすることを特徴とするテスト生成方法。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22 330
