特許
J-GLOBAL ID：200903072719278279
IC試験装置の検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-267245
公開番号（公開出願番号）：特開平9-113579
出願日： 1995年10月16日
公開日（公表日）： 1997年05月02日
要約：
【要約】【課題】 多数のICソケットが実装されたICテスタ用のソケットボードの配線状況を信頼性よく検査するIC試験装置の検査装置を提供する。【解決手段】 テストヘッドに導出されたリード線に所定の電流を与える直流電源と、この直流電源に接続するリード線を切替る切替走査手段と、ソケットボードに実装された複数のICソケットと、このICソケットの各コンタクトに接触するコンタクトを有し、このコンタクトに一端が接続された複数のリード線を具備した接続治具と、この接続治具に接続されたリード線の他端を順次共通接続点に接続する切替走査手段と、共通接続点と共通電位点との間に抵抗器を接続する第1接点と、第1接点がオフの状態で抵抗器の他端に電圧を印加する第2接点と、共通接続点の電圧を測定する電圧測定器とによって構成する。
請求項（抜粋）：
絶縁基板上にICソケットが多数装着されたソケットボードと、このソケットボードに実装された各ICソケットのコンタクトからテストヘッドに導出されたリード線とを具備して構成され、上記ICソケットに被試験ICを装着し、ICの装着状態で上記リード線を通じて被試験ICに試験信号を与え、被試験ICの動作を試験するIC試験装置において、上記テストヘッドに導出されたリード線に所定の電流を与える直流電源と、この直流電源に接続する上記リード線を順次切替る切替走査手段と、上記ソケットボードに実装された複数のICソケットと、このICソケットの各コンタクトに接触するコンタクトを有し、このコンタクトに一端が接続された複数のリード線を具備した接続治具、この接続治具に接続されたリード線の他端を順次共通接続点に接続する切替走査手段と、上記共通接続点と共通電位点との間に抵抗器を接続する第1接点と、上記第1接点が上記抵抗器の一端を共通電位点から切離した状態でその切離した一端に所定の電圧を印加する第2接点と、上記第1接点が上記抵抗器の一端を共通電位点に接続している状態において、上記抵抗器に発生する電圧が予定した電圧であるか否かを測定し、上記テストヘッドと上記ICソケットとの間の配線が正しく施されているか否かを判定すると共に、上記第2接点が上記抵抗器の一端に所定の電圧を印加した状態で上記共通接続点に電圧が発生するか否かを測定し、上記ソケットボード上の上記ICソケットの共通電位点に接続されるべきコンタクトが正しく共通電位点に接触しているか否かを判定する電位測定器とを具備して構成することを特徴とするIC試験装置の検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/26 Z
, G01R 31/02
