特許
J-GLOBAL ID：200903072723414799
光沢計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青山 葆 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-080032
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264251
出願日： 2000年03月22日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：
【要約】【課題】 新規な光沢計測方法を提供する。【解決手段】 サンプルに対し光源の光を照射し、サンプル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光器で受光する。この計測を入射角の異なる複数のエリアに対しておこない、前記のエリアへの光の入射角の相違による受光器の測定値の差を求める。この差より光沢を計測する。
請求項（抜粋）：
サンプルに対し光源の光を照射し、サンプル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光器で受光し、この計測を入射角の異なる複数のエリアに対しておこない、前記のエリアへの光の入射角の相違による受光器の測定値の差を求める光沢計測方法。
Fターム (17件)：
2G059AA02
, 2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059CC20
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059EE13
, 2G059FF06
, 2G059GG00
, 2G059GG10
, 2G059KK01
, 2G059KK03
, 2G059KK04
, 2G059KK07
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM05
