X線による異物検出装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：光石俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-100968
公開番号（公開出願番号）：特開平9-288071
出願日： 1996年04月23日
公開日（公表日）： 1997年11月04日
要約：

【要約】【課題】被検体の形状変化位置を画像回転や移動で合わせることなく、被検体のばらつきに影響されずに、効率よく、X線撮影によって異物を検出すること。【解決手段】線源電圧の変更等により撮影条件が変更可能なX線源1及びX線源制御装置2と、被検体12を透過するX線の透過量を検出するX線検出器4及びX線検出器制御装置5とを撮影制御装置3で制御しながら、線源電圧等を変更させて、同一の被検体に対し、被検体の形状と異物の両方が撮影できる条件と、被検体の形状のみが撮影できる条件で、異なる2つのX線画像を撮影し、得られた2つのX線画像を第一、第二各画像記録装置6、7に記録するものとし、予め異物の無い被検体でこれら2つのX線画像間の関係を求め演算係数として演算係数記憶装置8に記憶しておき、検査対象の被検体12の2つのX線画像と先に求めた演算係数とを用いて演算処理装置9で減算処理を行って異物を検出し、検出結果を表示装置10に表示すると共に、処理結果記録装置11に記録する。

請求項（抜粋）：

X線源と、このX線源を制御するX線源制御装置と、前記X線源から照射され、被検体を透過するX線の透過量を検出するX線検出器と、このX線検出器を制御するX線検出器制御装置と、前記X線源制御装置及び前記X線検出器制御装置を制御しながら、同一の被検体に対して、被検体の形状及び異物の両方を撮影できる第一撮影条件と、異物には充分な輝度が得られないが、被検体の形状は或る程度の輝度で撮影できる第二撮影条件とで2つのX線画像の撮影を行う撮影制御装置と、第一撮影条件で得られる第一画像と第二撮影条件で得られる第二画像を記録するための画像記憶装置と、予め異物の無い被検体についてのこれら撮影条件が異なる第一、第二2つの画像間の関係を演算係数として記憶しておく演算係数記憶装置と、検査対象の被検体について第一画像と第二画像を先の演算係数で減算処理を行い異物を検出する演算処理装置とで構成されることを特徴とするX線による異物検出装置。

IPC (5件)：

G01N 23/04 , A23L 1/00 , G01T 1/29 , G01V 5/00 , G21K 5/02

FI (5件)：

G01N 23/04 , A23L 1/00 Z , G01T 1/29 D , G01V 5/00 A , G21K 5/02 X

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平2-278974
特開平2-266248
特開平1-196551

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