特許
J-GLOBAL ID:200903072766724139

A/D変換器及びA/D変換器のテスト方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-119383
公開番号(公開出願番号):特開平7-326970
出願日: 1994年05月31日
公開日(公表日): 1995年12月12日
要約:
【要約】【目的】安価なテスタでノイズに影響されない正確なテストを行う。【構成】直列接続された抵抗R1〜Rnは、高電位を供給する電源端子11と低電位を供給する電源端子12の間に接続される。抵抗R1〜Rnの各接続点の電位及び入力信号Vinは、電圧比較器C1〜Cn-1に入力される。エンコ-ダ14は、電圧比較器C1〜Cn-1の出力に基づいてアナログ信号をデジタル信号に変換する。抵抗R1〜Rnの各接続点のうちの少なくとも1つには、テスト端子21が接続される。テスト時において、テスト端子21には所定の電位が印加される。
請求項(抜粋):
基準電圧を分圧する複数の抵抗と、前記複数の抵抗の各接続点における電位とアナログ信号の電位とを比較し、その比較結果を用いて前記アナログ信号をデジタル信号に変換する手段と、テスト時において、テスト手段から与えられる電位を前記複数の抵抗の各接続点のうちの少なくとも1つに印加する手段とを具備することを特徴とするA/D変換器。
IPC (4件):
H03M 1/10 ,  G01R 31/316 ,  G01R 31/28 ,  H03M 1/36
FI (2件):
G01R 31/28 C ,  G01R 31/28 V
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平1-227525
  • 特開平1-129531
  • 特開平1-227525
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