特許

J-GLOBAL ID：200903072770510933

X線コンピュ-タ断層撮影装置

発明者： ヘルベルト ビトル ,  エルンスト ノイマイヤー ,  マチアス ベルガー
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-229309
公開番号（公開出願番号）：特開2000-060839
出願日： 1999年08月13日
公開日（公表日）： 2000年02月29日
要約：

【要約】【課題】X線出力が減衰プロフィールの著しい変化にも追従することができるようにX線CT装置を形成する。【解決手段】検査対象物(5)に対して相対的に移動可能なX線源(1、22、32)のX線出力を変調する手段(11〜16、21、29)を備えたX線CT装置において、X線源(1、22、32)が1つの投影を行う間に1つ或いは複数のパルスでX線を放出し、X線出力を変調する手段(11〜16、21、29)がこのパルスの持続時間を個々の投影に対する検査対象物(5)の減衰プロフィールに関係して、各投影に対して平均的に与えられるmAsの積が減衰プロフィールの経過に相当するように調整する。

請求項（抜粋）：

検査対象物(5)に対して相対的に移動可能なX線源(1、22、32)のX線出力を変調する手段(11〜16、21、29)と、このX線源(1、22、32)から出るX線を検出する検出システムとを備え、X線源(1、22、32)の異なる位置において投影を行うX線CT装置において、X線源(1、22、32)が1つの投影を行う間に1つの或いは複数のパルスでX線を放出し、X線出力を変調する手段(11〜16、21、29)がこのパルスの持続時間を個々の投影に対する検査対象物(5)の減衰プロフィールに関係して、それぞれの投影に対して平均的に与えられるmAsの積が減衰プロフィールの経過に少なくとも質的に一致するように調整するX線コンピュータ断層撮影装置。

IPC (2件)：

A61B 6/03 330 ,  H05G 1/64

FI (2件)：

A61B 6/03 330 B ,  H05G 1/64 E