特許
J-GLOBAL ID:200903072943376561

誤り率測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井出 直孝 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-191566
公開番号(公開出願番号):特開平8-056214
出願日: 1994年08月15日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】【目的】 任意のパターンで発生するパケットデータ信号のビット誤り率を測定する。【構成】 データ信号情報信号とパケット切替情報信号とから参照パターン信号を生成し、被測定系から出力される受信データ信号と比較する。パケットデータ1周期中の誤りビットの発生位置がパケットの持続時間内に収まるように調整し、さらに、計数される誤りビット数が最小となるように遅延ビット数を調整することにより、データ信号のビット同期が確立される。【効果】 ビット同期が確立されていないために発生する測定誤差を排除し、正確な受信データ信号のビット誤り率の測定を行うことができる。参照パターン信号を簡便なハードウェア構成により生成することができる。
請求項(抜粋):
データ信号を発生するデータ信号源と、パケット切替信号を発生するパケット切替信号源とを備え、前記データ信号源からデータ信号と同一の信号を発生するための情報を入力し前記パケット切替信号源からパケット存続時間に関する情報を入力して参照パターン信号を生成し、この参照パターン信号にしたがって被測定系から出力される受信データ信号に対する誤り率を測定する誤り率測定部を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。

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