質量分析装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：武顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-155257
公開番号（公開出願番号）：特開平10-125277
出願日： 1997年06月12日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：

【要約】【課題】質量分析装置のインタフェース機構を構成する部材の清掃、交換等のための分解作業、その後の組み立て作業を容易に行うことを可能とする。【解決手段】本発明をESIインタフェース機構に適用した図示例は、イオン化電極3を構成する各細孔電極が、本体部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係合するように下端部が方形状に、かつ、溝部14に係合する形状とされて構成される。各細孔電極は、台部11に設けた溝部14に案内されてスライド可能とされると共に、各細孔電極が溝部14内に係合載置されることにより、中心の細孔の位置合わせが可能にされている。使用状態において、各細孔電極は、固定ネジ4により装置の全体が真空引き抜きダクト5の面に固定され、また、台部11の端部から溝部14に係合するストッパレバー13を有するストッパ12により真空引き抜きダクト5の面に押しつけられて固定される。

請求項（抜粋）：

分析すべき試料を気化させる気化器、及び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成されるインタフェース機構と、前記インタフェース機構からのイオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分析部とにより構成される質量分析装置において、前記イオン化電極は、下端部が方形状に、かつ、本体部筐体の平面板上に設けられる台部の溝部に係合する形状を持つ複数の細孔電極により構成されることを特徴とする質量分析装置。

IPC (4件)：

H01J 49/10 , G01N 27/62 , G01N 30/72 , H01J 49/04

FI (4件)：

H01J 49/10 , G01N 27/62 G , G01N 30/72 G , H01J 49/04

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開平1-134847
特開平4-002033
特公昭35-005841

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