特許
J-GLOBAL ID：200903073135667571

高周波焼入装置およびこれに用いられる焼入制御方法

発明者：
中村 立美

中村 立美 について


出願人/特許権者：
富士電子工業株式会社

富士電子工業株式会社 について


代理人 (1件)： 大西 孝治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-074743
公開番号（公開出願番号）：特開2000-273543
出願日： 1999年03月19日
公開日（公表日）： 2000年10月03日
要約：
【要約】【目的】 ワークとしてのボールネジが炭素鋼製でも合金鋼製でも、また、切削ネジでも転造ネジでも、焼入後のピッチ誤差を低減する。【構成】 高周波焼入装置100は、焼入機構110と、これに取り付けられた温度測定装置180と、焼入機構110をワークWに沿って移動させる移動機構130と、ワークWを回動させると共にワークWの伸びを検出する回動・伸び検出機構150等を備えている。移動焼入されるワークWとしてのボールネジの高周波焼入後のピッチ誤差を低減させるために、移動焼入中にワークWの全長の伸びを測定し、その伸びの測定結果のデータを利用して、これから焼入されるワークWの部分に対する加熱量を補正する焼入制御方法において、ワークWの焼入前の温度と、ワークWの焼入直後の部分の残温とを測定し、測定された温度差のデータを利用して、前記ワークWの加熱量を、ピッチ誤差を低減させるように更に補正して、これから焼入されるワークWの部分に対して移動焼入を進める。
請求項（抜粋）：
移動焼入中にワークとしてのボールネジの全長の伸びを測定する測長装置と、これにより測定された伸びのデータを利用して、これから焼入される前記ワークの部分に対する加熱量を補正する制御部とを有する高周波焼入装置において、前記ワークの焼入前の温度と、前記ワークの焼入終了した部分の残温とを測定する温度測定装置を具備し、これにより測定された温度の差のデータを利用して、前記制御部は、前記ワークの加熱量を、ピッチ誤差を低減させるように更に補正して、これから焼入される前記ワークの部分に対して移動焼入を進めるように構成されていることを特徴とする高周波焼入装置。
IPC (3件)：
C21D 9/00 ,  C21D 1/10 ,  C21D 9/28
FI (4件)：
C21D 9/00 A ,  C21D 1/10 P ,  C21D 9/28 B ,  C21D 9/28 A
Fターム (7件)：
4K042AA25 ,  4K042BA01 ,  4K042DA01 ,  4K042DB01 ,  4K042DC02 ,  4K042DD04 ,  4K042EA03
引用特許：
出願人引用 (5件)
  • 特開昭60-145322
  • 特開平1-301821
  • 特開平4-013812
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