特許

J-GLOBAL ID：200903073149454910

ナビゲーション手術のための位置合わせ方法

発明者： マティアス ミチュケ ,  ディーター リッター
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-102708
公開番号（公開出願番号）：特開2003-299642
出願日： 2003年04月07日
公開日（公表日）： 2003年10月21日
要約：

【要約】【課題】 位置捕捉システム(10)、X線装置(1)とX線不透過性マーク(21、51)を有するX線校正用ファントム(20、50)を用いるナビゲーション手術で位置合わせを行う目的で変換法則を把握する単純な方法を提供する。【解決手段】 再構築した容積内で描出されたX線装置の測定容積(7)内に存在するX線校正用ファントムのマークの座標をX線装置の測定容積に指定した座標系(KM)と位置捕捉システムに指定した座標系(KP)において把握し、測定容積に指定した座標系におけるマークの座標と、位置捕捉システムに指定した座標系におけるマークの座標とを手掛りに、測定容積に指定した座標系と位置捕捉システムに指定した座標系との間の座標変換を把握する。

請求項（抜粋）：

位置捕捉システム(10)、X線装置(1)およびX線不透過性マーク(21、51)を持つX線校正用ファントム(20、50)を使用し、ナビゲーション手術のための位置合わせを行う、下記のステップを含む方法。X線装置(1)を用いてX線校正用ファントム(20、50)の2D投影を様々な投影方向から撮影するステップ、撮影したX線校正用ファントム(20、50)の2D投影からX線校正用ファントム(20、50)の容積を再構築するステップ、再構築した容積内で描出されたX線装置(1)の測定容積(7)内に存在するX線校正用ファントム(20、50)のX線不透過性マーク(21、51)の座標を、X線装置(1)の測定容積(7)に指定した座標系(KM)において把握するステップ、再構築した容積内に描出した測定容積(7)内に存在するX線不透過性マーク(21、51)の座標を位置捕捉システム(10)に指定した座標系(KP)において把握するステップおよび測定容積(7)に指定した座標系(KM)におけるX線不透過性マーク(21、51)の座標および位置捕捉システム(10)に指定した座標系(KP)におけるX線不透過性マーク(21、51)の座標を手掛りに、測定容積(7)に指定した座標系(KM)と位置捕捉システム(10)に指定した座標系(KP)との間の座標変換を把握するステップ。

IPC (4件)：

A61B 6/00 390 ,  A61B 6/00 300 ,  A61B 6/00 ,  A61B 6/12

FI (4件)：

A61B 6/00 390 A ,  A61B 6/00 300 D ,  A61B 6/00 300 X ,  A61B 6/12

Fターム (9件)：

4C093AA04 ,  4C093CA35 ,  4C093CA36 ,  4C093EA02 ,  4C093EC16 ,  4C093FC11 ,  4C093FC12 ,  4C093FC16 ,  4C093GA01