特許
J-GLOBAL ID：200903073155659850
眼科検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
日比谷 征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-000003
公開番号（公開出願番号）：特開2003-199713
出願日： 2002年01月04日
公開日（公表日）： 2003年07月15日
要約：
【要約】【課題】 徹照画像を観察する際に、照明光源の角膜反射がなく徹照観察を行う。【解決手段】 CRTモニタ29には被検眼像E‘が表示されており、被検眼の眼底に測定光源から測定光束を照射すると、正常眼の場合に瞳孔Pt内が眼底反射光により照明され明るく観察される、白内障等の混濁がある場合にはその部分は暗い影となって観察される。このとき、測定と同じ被検眼検査部の位置では、測定光束の投影位置に角膜反射による測定光束の強い反射像Mが現れ、この反射像Mは観察を行うことの障害となる。このため、被検眼検査部を載置する可動台を駆動し、測定位置とは異なる位置から測定光束を投影することにより、反射像Mによる影響を軽減した瞳孔領域の観察を行う。
請求項（抜粋）：
被検眼の眼底に光束を投影する光束投影手段と、眼底からの反射光を受光するための受光手段と、該受光手段からの信号により被検眼情報の測定を行う測定手段と、被検眼位置の検出及び被検眼の瞳孔領域を観察するための被検眼観察手段と、被検眼に対しこれらの光軸を移動し位置合わせするための可動台と、該可動台を動かすための可動台駆動手段と、前記検眼観察手段からの映像信号を表示するための表示手段とを有する眼科測定装置において、前記測定とは異なる位置から眼底に光束を投影するために前記可動台を自動的に移動し、眼底からの反射光により照明した被検眼の瞳孔領域を観察することを特徴とする眼科検査装置。
FI (2件)：
A61B 3/10 W
, A61B 3/10 M
