特許
J-GLOBAL ID:200903073204043925

材料特性値計測用フレーム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 工藤 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-028855
公開番号(公開出願番号):特開2000-227391
出願日: 1999年02月05日
公開日(公表日): 2000年08月15日
要約:
【要約】【課題】材料の引張り試験、圧縮試験、亀裂試験を高精度化する材料特性値計測用フレームの構造。その測定値を正しいものとし、且つ、その測定値の高精度化を達成し、コンピュータによる微分計算、偏差標準統計処理の信頼性。【解決手段】被試験材料体9,9’を把持し、圧縮し、亀裂させる負荷Pを作用させて被試験材料9,9’の変位Vを一定方向に、且つ、回転自在に、支持する定方向回転案内自在体を形成し、そのフレーム1,1’等は中心点対称に閉じたフレームである。定方向回転案内自在体はそのフレームに支持されている。得たデータは、コンピュータにより、微分計算をそのコンプライアンスの計算のもとで信頼化させる。
請求項(抜粋):
閉じた第1フレームと、第2フレームからなり、前記第2フレームは前記第1フレームを介して閉じており、被試験材料体に引張負荷を与える荷重負荷棒が前記第1フレームにその負荷方向に移動自在に支持され、前記材料試験体前記負荷方向に交叉する方向の変位を検出するための横変位検出計は前記第1フレームに支持され、前記材料試験体の前記負荷方向の変位を検出するための縦変位検出計は前記第2フレームに支持されている材料特性値計測用フレーム。
Fターム (12件):
2G061AA01 ,  2G061AA02 ,  2G061AB05 ,  2G061AC04 ,  2G061BA03 ,  2G061BA06 ,  2G061DA01 ,  2G061DA12 ,  2G061DA14 ,  2G061EA02 ,  2G061EB03 ,  2G061EC02

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