特許

J-GLOBAL ID：200903073221465612

画像形成装置

発明者： 中川 謙一
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 近島 一夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-181211
公開番号（公開出願番号）：特開2000-019817
出願日： 1998年06月26日
公開日（公表日）： 2000年01月21日
要約：

【要約】【課題】 画像形成装置において、感光体表面の電位の制御に要する時間を短縮する。【解決手段】 画像形成装置は、アモルファスシリコンを主材とした感光体1と、感光体1上を所定の電位に一様に帯電させる帯電手段2と、感光体1に静電潜像を形成する露光手段3と、帯電したトナーを前記静電潜像に付着させて可視画像を形成する現像手段4と、感光体の表面電位を測定する電位測定手段9と、感光体の回転角度位置を検知する回転角度位置検知手段10と、電位測定手段と回転角度位置検知手段とによって、各回転角度位置における電位を測定し、該測定値に基づいて帯電手段を制御して、表面電位の平均値を所望の電位にする表面電位制御手段20と、を備えている。

請求項（抜粋）：

アモルファスシリコンを主材とした感光体と、該感光体上を所定の電位に一様に帯電させる帯電手段と、前記感光体に静電潜像を形成する露光手段と、帯電したトナーを前記静電潜像に付着させて可視画像を形成する現像手段と、前記感光体の表面電位を測定する電位測定手段と、前記感光体の回転角度位置を検知する回転角度位置検知手段と、前記電位測定手段と前記回転角度位置検知手段とによって、前記各回転角度位置における電位を測定し、該測定値に基づいて前記帯電手段を制御して、前記表面電位の平均値を所望の電位にする表面電位制御手段と、を備えたことを特徴とする画像形成装置。

IPC (2件)：

G03G 15/02 102 ,  G03G 15/00 303

FI (2件)：

G03G 15/02 102 ,  G03G 15/00 303

Fターム (16件)：

2H003BB11 ,  2H003CC01 ,  2H003DD01 ,  2H003DD03 ,  2H003DD08 ,  2H003DD11 ,  2H027DA02 ,  2H027DA22 ,  2H027DE07 ,  2H027EA01 ,  2H027EC06 ,  2H027EC07 ,  2H027EC10 ,  2H027ED02 ,  2H027ED03 ,  2H027EE02