特許

J-GLOBAL ID：200903073236726730

デュアル・エネルギーX線撮影で組織相殺パラメータを自動的に決定するための方法及び装置

発明者： ゴパール・ビー・アヴィナシュ ,  ジョン・マイケル・サボル ,  フランソア・サージ・ニコラス
出願人/特許権者： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
代理人 (1件)： 松本 研一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-132212
公開番号（公開出願番号）：特開2003-037778
出願日： 2002年05月08日
公開日（公表日）： 2003年02月07日
要約：

【要約】【課題】 デュアル・エネルギー式分解システムで構造相殺した画像(120)を自動的に決定する。【解決手段】 勾配マスクと位置確認マスクを用いて特性マスク(124)を計算する。高エネルギー・レベル画像(116)の収集に用いる実効kVp及び低エネルギー・レベル画像(118)の収集に用いる実効kVpにより決まるルックアップ・テーブル(122)内の領域から、第1または第2の相殺パラメータを選択する。第1のエネルギー・レベル画像(116)及び第2のエネルギー・レベル画像(118)から第1及び第2の相殺パラメータを用いた相殺計算式に従ってソフト構造画像(128)とハード構造画像(130)が取得される。

請求項（抜粋）：

デュアル・エネルギー式分解システムにおいて構造相殺した画像(120)を自動的に決定するための方法であって、少なくとも第1及び第2のタイプの構造から形成される内部解剖構造の第1の高エネルギー・レベル画像(116)を取得するステップと、前記第1のエネルギー・レベル画像(116)と比べてより低いエネルギー・レベルで、少なくとも第1及び第2のタイプの構造から形成される前記内部解剖構造の第2の低エネルギー・レベル画像(118)を取得するステップと、前記低エネルギー・レベル画像(118)を用いて特性マスク(124)を計算するステップと、前記特性マスク(124)と対照して第1の相殺パラメータを評価するステップと、前記第1の相殺パラメータに基づいて第2の相殺パラメータを計算するステップと、前記第1と第2の相殺パラメータのうちの一方を用いた相殺計算式に従って、前記第1のエネルギー・レベル画像(116)及び第2のエネルギー・レベル画像(118)から構造相殺画像(120)を取得するステップと、を含む方法。

IPC (3件)：

H04N 5/325 ,  A61B 6/00 333 ,  G06T 1/00 290

FI (3件)：

A61B 6/00 333 ,  G06T 1/00 290 A ,  A61B 6/00 350 S

Fターム (24件)：

4C093AA07 ,  4C093AA26 ,  4C093AA30 ,  4C093CA18 ,  4C093CA31 ,  4C093CA37 ,  4C093EA07 ,  4C093FF09 ,  4C093FF15 ,  4C093FF34 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057BA30 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE02 ,  5B057CH01 ,  5B057CH07 ,  5B057CH11 ,  5B057DA16